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7230G可見分光光度計結構原理與常見故障維修
更新時間:2018-10-27 點擊次數(shù):3309

引言 

7230G可見分光光度計是新一代帶微機電腦的 智能化可見分光光度計,具有較強的控制功能和數(shù) 據(jù)處理能力,并配有打印輸出。適用于在可見光譜 區(qū)范圍內(nèi)的各種物質(zhì)進行定量分析。廣泛應用于醫(yī) 療衛(wèi)生、臨床檢驗、生物化學、石油化工、環(huán)境保護、 質(zhì)量控制及大專院校教學實驗等部門。本文對 7230G可見分光光度計儀器原理以及常見的故障維 修進行探討與分析。 2 儀器原理、結構及光學系統(tǒng) 7230G可見分光光度計的測量原理:利用物質(zhì) 在光的照射激發(fā)下,物質(zhì)中的原子和分子所含的能 量以多種方法與光相互作用而產(chǎn)生對光的吸收效 應。由于物質(zhì)對光具有選擇性,各種不同的物質(zhì)都 有其各自的吸收光譜,用其特性來對物質(zhì)進行定性 和定量分析。因此當某單色光入射溶液時,其能量 就會被吸收而減弱。當入射光、吸光系數(shù)和溶液的 光程長度不變時,透過光是根據(jù)溶液的濃度而變化 的。通過測定吸光度即可得出被測溶液的濃度。儀 器內(nèi)計算機根據(jù)朗伯—比耳定律設有一個線性回 歸方程A=MC+N計算程序,只要輸入標準試樣濃度 值或線性回歸方程中的M和N,便能直接測定被測試 樣的濃度值。 7230G可見分光光度計的電子線路結構:采用INTEL公司MCS-51系列單片機中的89C52微處理 器。89C52微處理器內(nèi)置8位中央處理單元、256字節(jié) 內(nèi)部數(shù)據(jù)存儲器RAM、 8k片內(nèi)程序存儲器(ROM)32 個雙向輸入/輸出(I/O)口、 3個16位定時/計數(shù)器和5 個兩級中斷結構,一個全雙工串行通信口,片內(nèi)時 鐘振蕩電路。模數(shù)轉(zhuǎn)換器(A/D)為14433,接口(I/O) 采用8155。單色光透過被測溶液后由光電池接收并 轉(zhuǎn)換為電信號PD,經(jīng)IC3前置放大器放大。由于在 300nm~900nm之間基準信號不一,單片微型計算機 根據(jù)不同的基準信號,向IC2D/A轉(zhuǎn)換器發(fā)出指令,從 而改變IC1的放大倍數(shù),一直到基準信號達到單片微 型計算機中的程序要求。信號進入A/D轉(zhuǎn)換器,A/D 轉(zhuǎn)換器將前置放大器放大的模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字 信號送往單片機進行數(shù)據(jù)處理,見圖1。 7230G可見分光光度計的光學系統(tǒng):采用溴鎢 燈作為光源。光源W發(fā)出連續(xù)輻射光束,射到球面鏡 M1上,經(jīng)M1的反射,光束通過濾光片F(xiàn)濾去次級光 譜進到光狹縫S1,然后進入單色器,在單色器中光 束經(jīng)過平面鏡M2的反射,光束改變方向投射到準直 鏡M3上,經(jīng)M3的反射光束成為平行光投射到平面 光柵G上,經(jīng)平面光柵G的色散,色散的光束投射到 準直鏡M4上,經(jīng)M4的聚焦,色散光聚焦通過出射狹 縫S2出單色器成為單色光,單色光通過透鏡T以使 光束集中通過樣品池中的樣品,后照射到光電池 PD上,見圖2。

3 故障與維修 例1、測量時無單色光或光斑不完整 檢查:檢查溴鎢燈正常,光源通過單色器后,無 法出射單色光或出現(xiàn)光斑不均勻、不完整的現(xiàn)象。 操作:這時,把波長調(diào)到放在580nm處,在出光 孔處放一紙卡片以便觀察,重新調(diào)整光源燈燈絲位 置,同時在紙卡片處觀察光斑形狀,使其為黃色且光斑完整。如不好,可松開光源燈與底板緊固螺 絲,使其前后左右移動,觀察使光斑時固緊底 板螺絲。 例2、溴鎢燈更換后,雖亮但無出射光 分析:每一個溴鎢燈的燈絲位置都略有不同, 其燈絲的位置直接影響儀器光線的走向。 操作:首先用白紙放到單色器進光孔處觀察是 否有一長方型光斑,如果光斑不能正中進入光孔,先調(diào)整光 源燈座上的三顆螺母改變溴鎢燈的位置,使光 斑正中射入光孔。或用白紙在球面反射鏡前面向單 色器入射孔方向隨光斑移動,檢查單色器入口處應 有光亮進入,如果沒有,可調(diào)節(jié)球面反射鏡背后的 左右兩個螺母位置使光亮進入,使光斑在580nm處 為黃色且光斑完整。 例3、光斑大小不均勻且模糊散光及讀數(shù)不穩(wěn) 定 分析:儀器使用一段時間后,因各種因素導致 光路焦距微位移。 操作:在樣品池光路中放白紙片,松開燈座后 方的兩顆固定螺絲前后緩慢移動燈座,觀察白紙上 光斑的變化,當投射到白紙上的光斑大小均勻,清 晰看到溴鎢燈燈絲即可把松開的固定螺絲固緊。 例4、儀器的雜散光偏高 分析:雜散光是可見分光光度計的重要指標, 國家標準對分光光度計的雜散光明確規(guī)定,7230G光柵型分光光度的雜散光: B段360nm≤0.5%、 420nm≤1.0%。雜散光指遠離吸收光的其它波長的 入射光。是光學系統(tǒng)中非正常傳輸光的總稱。產(chǎn)生 于漏光,透射光學元件表面的殘余反射,從光學元 件表面以及大氣中的灰塵,以及由于光學元件表面 質(zhì)量問題都會產(chǎn)生雜散光。雜散光的存在會對朗 伯-比耳定律產(chǎn)生偏移,從而產(chǎn)生測量數(shù)據(jù)的不準 確。 操作:對于光學元件的灰塵可用鏡頭紙或棉簽 蘸*擦拭。光學元件表面的霉菌可用鏡頭紙 或棉簽蘸蒸餾水擦拭,并用凈風吹干。而光學元件 損壞只有更換。對于漏光,可用黑布遮住儀器,測試 光電池、暗盒等部分,找到漏光處加以排除。 例5、儀器的讀數(shù)不準 分析:前置放大線路是把光電轉(zhuǎn)換成的信號按 比例放大,但由于電子器件的原因,儀器在使用一 段時間后,參數(shù)會有一定的變化導致儀器的讀數(shù)不 準。

操作:當儀器的讀數(shù)不準時,可在前置放大線 路中調(diào)節(jié)W1電位器。如果儀器光源足夠亮,按100% 鍵不能達到滿度,可調(diào)節(jié)W2電位器,在調(diào)節(jié)W2時用 不漏光的物體遮蓋測試槽,用萬用表測試電路板上 的CK3測試點電壓,測試點電壓為1000mV(如圖3)。 例6、儀器顯示E1 檢查:當儀器合上樣品池蓋儀器顯示E1。檢查 樣品槽光路及樣品槽蓋正常。用手人為地打開儀器 光門,儀器顯示依然為E1。用萬用表測試電路板上 的CK3測試點電壓,測試點電壓為零伏。測量IC3輸 出端信號,無論打開或關閉儀器光門都沒有變化, 而人為在IC3輸入段加入信號,CK3測試點上有輸出 信號變化,證明放大電路是正常的,檢查光電轉(zhuǎn)換器也能正常光電轉(zhuǎn)換,證明故障出在連接線上而不 是器件故障。通過線路測量:故障出在光電轉(zhuǎn)換器 連線與線路板的焊接點上,因虛焊而致使信號連接 不上。 操作:把檢查到的連接虛焊點重新焊接牢固, 儀器故障排除。筆者在后續(xù)的儀器維修工作中, 7230G可見分光光度計這種型號儀器都在同一點上 出現(xiàn)虛焊,需引起同行的注意。

 

 

 

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