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單光束紫外可見分光光度計(jì)和雙光束紫外分光光度計(jì)的區(qū)別
1.    單光束儀器
單光束儀器只有一條光路，在各個(gè)波長上依次對參比標(biāo)準(zhǔn)和樣品進(jìn)行測量，對測試結(jié)果進(jìn)行比較，計(jì)算出樣品的反射因數(shù)（或透射比）。各個(gè)波長上比較當(dāng)然很麻煩。一般是先將參比標(biāo)準(zhǔn)在整個(gè)波長范圍內(nèi)測試，將測試結(jié)果保持。然后以樣品代替標(biāo)準(zhǔn)作同樣測量，再計(jì)算結(jié)果。單光束儀器的優(yōu)點(diǎn)是能夠保證參比標(biāo)準(zhǔn)和待測樣品在*相同的光路和電氣條件下進(jìn)行測量；缺點(diǎn)是必須保證在標(biāo)準(zhǔn)和樣品（有時(shí)連續(xù)測多個(gè)樣品）整個(gè)測試時(shí)間內(nèi)儀器保持穩(wěn)定。對于這種要求，現(xiàn)代的電子器件和技術(shù)、穩(wěn)壓好的恒定光源還是可以達(dá)到的，能滿足一般使用。但儀器應(yīng)充分預(yù)熱以達(dá)到穩(wěn)定。有的廠家常用一個(gè)光電器件監(jiān)測光源總能量的變化，這稱作準(zhǔn)（假）雙光束方式。它只能一定程度上校正光源變化產(chǎn)生的誤差；因?yàn)楣饽茏兓^大時(shí)，還會引起光源光譜功率分布的變化，各個(gè)波長上光能的變化并不一定按同一比例增減。當(dāng)然也不能校正電氣部分的漂移。
雙光束儀器
常見的雙光束儀器有兩種安排
1儀器的光度系統(tǒng)分成兩條光路，一條測試光路，一條參比光路。在參比窗口上放置一參照物；測試窗口則先后放置參比標(biāo)準(zhǔn)和待測樣品。兩光束在分別經(jīng)過參照物和參比標(biāo)準(zhǔn)（或待測樣品）后，合在一起，以很短的時(shí)間間隔被同一探測器交替接收，完成兩路信號的采集。
參比標(biāo)準(zhǔn)和待測樣品必須放在同一條光路內(nèi)進(jìn)行測試，這是因?yàn)閮蓷l光路很難做到*對稱，效率相同。只有在同一條光路內(nèi)，探測器輸出的信號大小才只決定于被測物體的反射因數(shù)（或投射因數(shù)），這樣，就可以由參比標(biāo)準(zhǔn)、待測樣品的響應(yīng)值和參比標(biāo)準(zhǔn)的反射因數(shù)（或投射因數(shù)）的數(shù)據(jù)算出待測樣品的反射因數(shù)。

參比光路和參照物的作用是，監(jiān)測參比標(biāo)準(zhǔn)和待測樣品測量過程中光源能量波動(dòng)和電氣部分的漂移，計(jì)算機(jī)將兩次測量中的變化情況逐個(gè)記錄，在zui后計(jì)算時(shí)予以校正。這就是與單光束儀器本質(zhì)上不同的地方。

有人企圖將參比標(biāo)準(zhǔn)和待測樣品分別放在參比光路和測試光路內(nèi)，一次測量完成工作，這種簡單作法是不可用的。但是如果事先對兩光路的不平衡性，進(jìn)行測試，并予以記錄，而且儀器又很穩(wěn)定，zui后對這種不平衡性進(jìn)行校正，還是可以的。事實(shí)上有的儀器也用了這種方法。
這種雙光束儀器，因?yàn)槭怯玫耐惶纂姎庀到y(tǒng)，兩光路測試相隔時(shí)間極短，所以它既能校正光源的波動(dòng)，又能校正電氣漂移帶來的誤差。

用陣列接收器件的分光光度計(jì)中，很難用同一探測器來接收參比光路和測試光路分別送來的信號。因此，兩條光路各自有自己的探測器。事實(shí)上，這類儀器可做成幾乎*相同的兩套測試系統(tǒng)，一套對樣品和參比標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試，同前面說的一樣；另一套系統(tǒng)對光源（或照明光束）進(jìn)行測試。監(jiān)視在參比標(biāo)準(zhǔn)和待測樣品測試過程中，照明光源光譜功率變化的情況，并進(jìn)行記錄。計(jì)算時(shí)校正光源變化的影響。因?yàn)殡娖飨到y(tǒng)兩套，所以這種雙光路不能校正電氣部分漂移造成的誤差。而光源的能量變化可得到很好的校正，即使用閃光燈也沒有問題。就電氣部分的漂移而言，如前所說，現(xiàn)代的電子器件的技術(shù)是可以滿足使用要求的。